X荧光光谱仪(XRF)是由激发源(X射线管)和探测系统构成。X荧光光谱仪是一种重要的分析仪器,按色散方式的不同,X射线荧光光谱仪可以分为波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。按照应用方式,X射线荧光光谱仪又可分为手持式、台式机等多种类型。
那么X荧光光谱仪有什么不同于别的仪器的优势呢?
分析速度快:测定用时与测定精密度有关,但通常都很短,可以在2~5分钟内测完样品中的全部待测元素。
非破坏性分析:在测定过程中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象,因此同一试样可以反复多次测量,结果重现性好。
应用广泛:X射线荧光光谱仪能够分析从金属、矿石、土壤、矿渣、陶瓷、玻璃、涂料、塑料等各种样品中的所有元素,因此在多个领域都有广泛的应用,如工业生产中的质量控制、地质矿产勘探、环境监测、文物保护以及科学研究等。
总之,X荧光光谱仪因其多种分类和显著优势,在多个领域都发挥着不可替代的作用。如需更多关于X荧光光谱仪的信息,建议查阅仪器分析专业书籍或咨询该领域专业人士。